Stereomikroskops
Leica DFC490, MZ16A
Ar attēlu analīzes sistēmu, palielinājums 10-300x.
Inversais mikroskops
Iespēja paraugus aplūkot no apakšas, piemēram, šūnas Petri trauciņā.
Skenējošais elektronu mikroskops
Tescan Mira/LMU
Palielinājums 4x – 500 000x. Iespējams noteikt parauga sastāva viendabīgumu (rezultāts – attēls), iespējams noteikt ķīmisko sastāvu konkrētā apgabalā (piemēram 1×1 µm), veikt punktveida ieslēgumu identifikāciju – nosaka paraugā esošos ķīmiskos elementus un to proporciju. Vizuāli var novērtēt poru izkliedi un sadalījumu, izmērīt poru, kristālu u.c. objektu izmērus. Var būt nesagraujoša analītiskā metode – paraugu neskartu iespējams saņemt atpakaļ. Komplektācijā ir arī elektrovadoša pārklājuma uzsmidzināšanas iekārta un inertas gāzes atmosfēra. Vairāk par ar SEM iegūstamajiem rezultātiem šeit.
Optiskais dilatometrs (augsttemperatūras mikroskops)
EM201, HT163
Iespēja novērot parauga kontūras izmaiņu karsējot līdz 1400°C, tas ir, novērot sarukumu, uzpūšanos, kušanu u.tml., kā arī izsekot kontūras stūra leņķa un laukuma izmaiņai.
Paraugu sagatavošana mikroskopijai
- Mazapgriezienu zāģis ar dimanta disku. Parauga biezums 0-25 mm, turētāji dažādām parauga formām.
- Dažāda raupjuma pulējamās pastas.